Магнитная линза - Magnetic lens

Смотрите также: Электронная оптика и Сильная фокусировка

Подтип магнитной линзы (квадрупольный магнит ) в лаборатории Майера-Лейбница, Мюнхен

А магнитная линза это устройство для фокусировки или отклонения движущихся заряженные частицы, Такие как электроны или же ионы, с помощью магнитного Сила Лоренца. Его силу часто можно изменить, используя электромагниты.

Магнитные линзы используются в самых разных областях, от электронно-лучевые трубки над электронная микроскопия к ускорители частиц.

Дизайн

Магнитная линза обычно состоит из нескольких электромагнитов, расположенных в квадруполь (видеть квадрупольный магнит ), секступоль, или более высокий формат; в электромагнитные катушки размещаются в вершинах квадрата или другого правильный многоугольник. Из этой конфигурации можно сформировать индивидуальное магнитное поле для управления пучок частиц.

На проходящую частицу действуют две векторные силы ${\displaystyle H_{Z}}$ (параллельно ядру), и ${\displaystyle H_{R}}$ (параллельно радиусу линзы). ${\displaystyle H_{R}}$ заставляет частицу двигаться по спирали через линзу, и эта спираль подвергает электрон ${\displaystyle H_{Z}}$ которые, в свою очередь, фокусируют электрон. Обратите внимание, что магнитное поле неоднородно, частицы, расположенные близко к центру, отклоняются менее сильно, чем частицы, проходящие через линзу вдали от оси.^[1]

Использует

Отклоняющее ярмо (медные катушки и белый пластиковый каркас) вокруг задней шейки телевизора с электронно-лучевой трубкой

Вид на ярмо со снятой трубкой

Телевизоры с использованием электронно-лучевые трубки использовать магнитную линзу в виде отклоняющая вилка чтобы электронный луч сканировать изображение отклонение это по вертикали и горизонтали.

Смотрите также

• Пучок заряженных частиц
• Электронная оптика
• Электронно-лучевая технология
• Ионный пучок
• Масс-спектрометрии
• Квадрупольная ионная ловушка
• Квадрупольный масс-анализатор

Примечания

1. Хафнер Б., 2008 г., Вводный праймер для просвечивающей электронной микроскопии, Лаборатория характеристик, Миннесотский университет - "Ссылка "

Рекомендации

• Эгертон, Р. Ф. (1996). Спектроскопия потерь энергии электронов в электронном микроскопе (2-е изд.). Springer Verlag. ISBN  9780306452239.
• Джон М. Роденбург (2–5 сентября 1997 г.). «Электронная микроскопия и анализ 1997». Proc. Институт физики, конференция группы электронной микроскопии и анализа, Кавендишская лаборатория. Институт физики.