Джейкоб Савир - Jacob Savir

Джейкоб Савир
Альма-матер	Технион - Израильский технологический институт (Бакалавр наук, 1968; Магистр наук, 1974) Стэндфордский Университет (Магистр наук, 1976; доктор философии, 1978)
Награды	Сотрудник IEEE
Научная карьера
Учреждения	Технологический институт Нью-Джерси
Интернет сайт	сеть.njit.edu/ ~ савир/ савир.htm

Джейкоб Савир профессор кафедры электротехники и вычислительной техники.^[1] на Технологический институт Нью-Джерси и Сотрудник IEEE.^[2]

Ему приписывают разработку двух подходов к обнаружению переходных неисправностей (тип Модель неисправности ), которые могут возникнуть во время производства полупроводниковых микросхем, а именно, при испытании перехода при перекосе нагрузки (испытание на ускорение при запуске-выключении-сдвиге) и при испытании задержки на широкой стороне (испытание на запуск при захвате на скорости).^{[нужна цитата ]}

Образование

Савир получил степень бакалавра наук. и M.Sc. в Электротехника из Технион - Израильский технологический институт в 1968 и 1974 годах соответственно. Затем он получил MS в Статистика и PhD в Электротехника из Стэндфордский Университет в 1976 и 1978 годах соответственно.

Работал исследователем в IBM в течение почти двух десятилетий после его доктора философии (1978–1996).^{[нужна цитата ]}

Вклад исследований в DFT

В 1992 году Савир написал основополагающую статью о испытании на переход при перекосе нагрузки.^[3] более известный в Дизайн для тестирования промышленность как испытание на скорости при запуске вне смены.

В 1994 году он стал соавтором статьи о тесте задержки широкой стороны.^[4]

Рекомендации

1. Домашняя страница доктора Джейкоба Савира
2. "Справочник стипендиатов IEEE". IEEE. Получено 4 декабря 2016.
3. [1] Испытание на переход при перекосе нагрузки: Часть I, Расчет.
4. [2] Тест задержки широкой стороны