Сильно ускоренный стресс-тест - Highly accelerated stress test

В сильно ускоренный стресс-тест (HAST) метод был впервые предложен Джеффри Э. Ганном, Сушилом К. Маликом и Пураби М. Мазумдаром из IBM.

Коэффициент ускорения для повышенной влажности получен эмпирическим путем:

${\displaystyle AF_{\text{H}}=e^{{\text{const}}\cdot (RH_{\text{s}}^{n}-RH_{\text{o}}^{n})},}$

${\displaystyle {\text{const}}}$ это значение, которое обычно изменяется от 0,1 до 0,15

куда RH_s напряженная влажность, RH_о влажность рабочей среды, и п - константа, полученная эмпирическим путем (обычно 1 <п < 5).

Коэффициент ускорения для повышенной температуры рассчитывается следующим образом:

${\displaystyle AF_{T}=e^{(E_{\text{a}}/k)(1/T_{\text{o}}-1/T_{\text{s}})},}$

куда E_а - энергия активации температурного отказа (чаще всего 0,7 эВ для электроники), k является Постоянная Больцмана, Т_о это Рабочая Температура в кельвины, и Т_s - напряженная температура.

Следовательно, общий коэффициент ускорения для объективного тестирования HAST составляет

${\displaystyle AF_{\text{HAST}}=AF_{\text{H}}\cdot AF_{T}=e^{{\text{const}}\cdot (RH_{\text{s}}^{n}-RH_{\text{o}}^{n})}e^{(E_{\text{a}}/k)(1/T_{\text{o}}-1/T_{\text{s}})}.}$

Рекомендации

1. Ганн, Джеффри Э., Сушил К. Малик и Пураби М. Мазумдар. «Высоко ускоренный метод температурных и влажностных стресс-тестов (HAST)». Симпозиум по физике надежности, 1981. 19-й ежегодный. IEEE, 1981.

внешняя ссылка

• Камеры для ускоренных нагрузочных испытаний
• Селектор камеры экологических испытаний по применению
• Селектор камеры экологических испытаний по применению