Фудзио Масуока - Fujio Masuoka

Фудзио Масуока (舛 岡 富士 雄)
Родился8 мая 1943 г. (1943-05-08) (возраст77)
Такасаки, Гунма
НациональностьЯпония
Альма-матерУниверситет Тохоко
ИзвестенФлэш-память
НЕ мигает
NAND flash
GAAFET
НаградыIEEE Мемориальная награда Морриса Н. Либмана
Научная карьера
ПоляЭлектротехника
УчрежденияToshiba
Университет Тохоку
Unisantis
ДокторантДзюн-ичи Нисидзава

Фудзио Масуока (舛 岡 富士 雄, Масуока Фудзио, родился 8 мая 1943 г.) японский инженер, проработавший в Toshiba и Университет Тохоку, и в настоящее время является главным техническим директором (CTO) Unisantis Electronics. Он наиболее известен как изобретатель флэш-память, включая разработку как НЕ мигает и NAND flash типы в 1980-е гг.[1] Он также изобрел первые круговой (GAA) МОП-транзистор (GAAFET ) транзистор, ранний неплоский 3D транзистор, в 1988 г.

биография

Масуока присутствовал Университет Тохоку в Сендай, Япония, где он получил степень бакалавра инженеров в 1966 году и докторскую степень в 1971 году.[2]Он присоединился Toshiba в 1971 году. Там он изобрел лавинную инъекцию с многоуровневыми затворами. металл – оксид – полупроводник (SAMOS) память, предшественник электрически стираемая программируемая постоянная память (EEPROM) и флэш-память.[3][4] В 1976 году он разработал динамическая память с произвольным доступом (DRAM) с двойным поли-Si структура. В 1977 году он перешел в бизнес-подразделение Toshiba Semiconductor Business Division, где разработал 1 МБ DRAM.[3]

Масуоку больше всего волновала идея энергонезависимая память, память, которая сохранится даже при отключении питания. EEPROM того времени стирали очень долго. Он разработал технологию «плавающих ворот», которые можно стереть намного быстрее. Он подал патент в 1980 году вместе с Хисакадзу Иидзука.[5][3]Его коллега Сёдзи Ариидзуми предложил слово «вспышка», потому что процесс стирания напомнил ему вспышку фотоаппарата.[6]Результаты (объемом всего 8192 байта) были опубликованы в 1984 г. и стали основой для флэш-память технология гораздо большей мощности.[7][8] Масуока и его коллеги представили изобретение НЕ мигает в 1984 г.,[9] а потом NAND flash на IEEE 1987 Международная конференция по электронным устройствам (IEDM) в Сан-Франциско.[10] Toshiba начала коммерческое производство флэш-памяти NAND в 1987 году.[11][12] Toshiba дала Масуоке небольшой бонус за изобретение, но это была американская компания. Intel продажи сопутствующих технологий составили миллиарды долларов.[13]

В 1988 году группа исследователей Toshiba под руководством Масуока продемонстрировала первый круговой (GAA) МОП-транзистор (GAAFET ) транзистор. Это была ранняя неплоская 3D транзистор, и они назвали его «транзистором с окружающим затвором» (SGT).[14][15][16][17][18] Он стал профессором Университета Тохоку в 1994 году.[13]Масуока получил награду 1997 года. IEEE Мемориальная награда Морриса Н. Либмана из Институт инженеров по электротехнике и электронике.[19]В 2004 году Масуока стал главным техническим директором Unisantis Electronics с целью разработки трехмерный транзистор, основанный на его более раннем изобретении транзистора с окружающим затвором (SGT) 1988 года.[17][2]В 2006 году он урегулировал судебный процесс с Toshiba на 87 миллионов иен (около 758 000 долларов США).[20]

У него 270 зарегистрированных патентов и 71 дополнительный патент на рассмотрении.[3] Его предложили в качестве потенциального кандидата на Нобелевская премия по физике, вместе с Роберт Х. Деннард кто изобрел однотранзисторную DRAM.[21]

Признание

Рекомендации

  1. ^ Джефф Кац (21 сентября 2012 г.). "Устная история Фудзио Масуока" (PDF). Музей истории компьютеров. Получено 20 марта, 2017.
  2. ^ а б "Профиль Компании". Юнисантис-Электроникс (Япония) Лтд.. Получено 20 марта, 2017.
  3. ^ а б c d "Фудзио Масуока". IEEE Исследовать. IEEE. Получено 17 июля 2019.
  4. ^ Масуока, Фудзио (31 августа 1972 г.). «Лавинный впрыск типа mos memory». Цитировать журнал требует | журнал = (Помогите)
  5. ^ «Устройство полупроводниковой памяти и способ его изготовления». Патент США 4531203 A. 13 ноября 1981 г.. Получено 20 марта, 2017.
  6. ^ Детлев Рихтер (2013). Flash Memories: экономические принципы производительности, стоимости и надежности. Серия Springer в современной микроэлектронике. 40. Springer Science and Business Media. С. 5–6. Дои:10.1007/978-94-007-6082-0. ISBN  978-94-007-6081-3.
  7. ^ Ф. Масуока, М. Асано, Х. Ивахаси, Т. Комуро и С. Танака (9 декабря 1984 г.). «Новая флеш-ячейка E2PROM с использованием технологии тройного поликремния». Международная конференция по электронным устройствам. IEEE: 464–467. Дои:10.1109 / IEDM.1984.190752.CS1 maint: использует параметр авторов (ссылка на сайт)
  8. ^ «Флэш-память EEPROM емкостью 256 КБ с использованием технологии тройного поликремния» (PDF). Исторический фоторепозиторий IEEE. Получено 20 марта, 2017.
  9. ^ «Toshiba: изобретатель флэш-памяти». Toshiba. Получено 20 июн 2019.
  10. ^ Масуока, Ф .; Momodomi, M .; Iwata, Y .; Широта Р. (1987). «Новые EPROM сверхвысокой плотности и flash EEPROM с ячейкой структуры NAND». Собрание электронных устройств, 1987 г.. IEDM 1987. IEEE. Дои:10.1109 / IEDM.1987.191485.
  11. ^ «1987: Toshiba запускает NAND Flash». eWeek. 11 апреля 2012 г.. Получено 20 июн 2019.
  12. ^ «1971: введено многоразовое полупроводниковое ПЗУ». Музей истории компьютеров. Получено 19 июн 2019.
  13. ^ а б Фулфорд, Бенджамин (24 июня 2002 г.). "Невоспетый герой". Forbes. Получено 20 марта, 2017.
  14. ^ Масуока, Фудзио; Takato, H .; Sunouchi, K .; Okabe, N .; Nitayama, A .; Hieda, K .; Хоригучи, Ф. (декабрь 1988 г.). «Высокопроизводительный КМОП транзистор с окружающим затвором (SGT) для БИС сверхвысокой плотности». Технический дайджест., Международная конференция по электронным устройствам: 222–225. Дои:10.1109 / IEDM.1988.32796.
  15. ^ Брозек, Томаш (2017). Микро- и наноэлектроника: новые проблемы и решения для устройств. CRC Press. п. 117. ISBN  9781351831345.
  16. ^ Исикава, Фумитаро; Буянова, Ирина (2017). Новые композитные полупроводниковые нанопроволоки: материалы, устройства и приложения. CRC Press. п. 457. ISBN  9781315340722.
  17. ^ а б "Профиль Компании". Unisantis Electronics. Архивировано из оригинал 22 февраля 2007 г.. Получено 17 июля 2019.
  18. ^ Ян, Б .; Buddharaju, K. D .; Teo, S.H.G .; Fu, J .; Singh, N .; Lo, G. Q .; Квонг, Д. Л. (2008). «CMOS-совместимые вертикальные полевые МОП-транзисторы на кремниевых нанопроволках Gate-All-Around». ESSDERC 2008 - 38-я Европейская конференция по исследованиям твердотельных устройств: 318–321. Дои:10.1109 / ESSDERC.2008.4681762. ISBN  978-1-4244-2363-7.
  19. ^ «Лауреаты премии IEEE Morris N. Liebmann Memorial Award». Архивировано из оригинал 6 июня 2008 г.. Получено 20 марта, 2017.
  20. ^ Тони Смит (31 июля 2006 г.). «Toshiba урегулировала спор с изобретателем Flash-памяти: Боффин получил 87 млн ​​иен, но хотел 1 млрд иен». Реестр. Получено 20 марта, 2017.
  21. ^ Кристин Левотски (2 июля 2013 г.). «Почему Нобелевская премия заставляет забыть о памяти?». EE Times. Получено 20 марта, 2017.